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Hirata, T. Ichitsubo, P. F. Guan, T. Fujita, and M. W. Chen "Distortion of local atomic structures in amorphous Ge-Sb-Te phase change materials" Phys. Rev. Lett. (in press) 用語の説明 ◆アモルファス物質 結晶のように広い範囲の規則正しい原子配列を持たない物質。[参照元へ戻る] ◆相変化記録材料 結晶とアモルファスの反射率が大きく異なり、それらの間の相変化が情報の記録・消去に利用できるような材料。[参照元へ戻る] ◆リバースモンテカルロ法 アモルファス構造をモデル化する手法の1つ。実験データだけからモデル化する手法としては唯一といってもよい。準備した構造モデル（原子数が数千～数万個）中の原子を1つずつランダムに動かすことにより、構造モデルから計算した構造因子をX線回折や中性子散乱など試料全体から得られた実測の構造因子に近づけていく。[参照元へ戻る] ◆平均構造情報 材料全体からの散乱から得られる構造の情報。材料には莫大な数の原子が含まれており、通常のX線回折や中性子散乱から得られる構造因子には、多数の原子が作る局所構造の情報がすべて含まれる。一方、今回は、なるべく少ない原子からの情報を得て局所構造をモデル化した。[参照元へ戻る] ◆オングストロームビーム電子回折手法 電子線を直径1 nm以下まで絞り、試料の局所領域の電子線回折パターンを測定する手法。通常はナノビーム電子回折と呼ばれるが、アモルファスの局所構造から情報を得る場合はオングストローム（0.1 nm）レベルまで絞り込むことが必須であるためこのように呼んでいる。[参照元へ戻る] ◆スパッタ法 薄膜作製法の1つ。アルゴンをターゲット板に衝突させ、はじき飛ばされた原子を基板上に堆積させて薄膜を作る。[参照元へ戻る] ◆走査型透過電子顕微鏡 透過電子顕微鏡の中で電子線を集束させ、その電子線で試料上を走査し、検出器で像を得る。散乱角に依存した特徴的な像が得られる。今回、走査機能を使って回折パターンを連続的に取得した。[参照元へ戻る] ◆ミラー指数 結晶の中の方向や面を記述するための指数。岩塩型構造のような立方体（立方晶）では[001]、[110]、[111]方向は以下に矢印で示すような方向となる。[参照元へ戻る] お問い合わせお問い合わせフォーム 産総研について アクセス 調達情報 研究成果検索 採用情報 報道・マスコミの方へ メディアライブラリー お問い合わせ English ニュース お知らせ一覧 研究成果一覧 イベント一覧 受賞一覧 研究者の方へ はじめての方へ 研究成果検索 研究情報データベース お問い合わせ 採用情報 ビジネスの方へ はじめての方へ 研究成果検索 事例紹介 協業・提携のご案内 お問い合わせ AIST Solutions 一般の方へ はじめての方へ イベント情報 スペシャルコンテンツ 採用情報 お問い合わせ 記事検索 産総研マガジンとは 公式SNS @AIST_JP 産総研チャンネル 公式SNS @AIST_JP 産総研 チャンネル サイトマップ このサイトについて プライバシーポリシー 個人情報保護の推進 国立研究開発法人産業技術総合研究所 Copyright © National Institute of Advanced Industrial Science and Technology （AIST） （Japan Corporate Number 7010005005425）. 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